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Japanese Journal
- 依頼講演 抵抗変化メモリにおけるナノ導通フィラメントの抵抗の温度依存性 (シリコン材料・デバイス)
- 大塚 慎太郎,濱田 佳典,清水 智弘 [他]
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114(88), 75-78, 2014-06-19
- NAID 40020125162
- FC14、HFC23およびFC116の空気、窒素および酸素に対する拡散係数
- 松永 直樹
- 熱物性 25(2), 76-81, 2014
- … 酸素に対する拡散係数は測定温度範囲全体にわたって正常に測定できたが、393~453Kでは、乾燥空気および窒素に対する拡散係数の測定値は温度係数が異常に小さく、過小と判断された。 …
- NAID 130004877039
- 2P3-3 ScAlN膜における相境界付近のGHz帯圧電特性と弾性温度係数(ポスターセッション)
- 鈴木 雅視,柳谷 隆彦
- 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演論文集 34, 253-254, 2013-11-20
- NAID 110009847097
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- 慶應義塾大学日吉物理学教室 2008 年9 月1 日 したがって、この銅線の0˚C と100˚C の間の電気抵抗の平均温度係数α0,100 [1/˚C] は α0,100 = 1 R0 · R100 − R0 100 = 1 14.0 · 20.0 − 14.0 100 = 0.0043 [1/˚C] となる。半導体 ...
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