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Japanese Journal
- 低軟X線領域における大口径シリコンドリフト検出器を利用した部分蛍光収量XAFS測定
- 赤色発光型ユーロピウム錯体と二分子膜との複合系の構築とその特性
- 様々な形態の試料に対する軟X線領域XAFS測定システムの開発
- 電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌 = The transactions of the Institute of Electrical Engineers of Japan. C, A publication of Electronics, Information and System Society 130(10), 1762-1767, 2010-10-01
- NAID 10026694086
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- 蛍光(fluorescence)とは、電子励起状態(S1)から自然放出(spontaneous emission)によって電子基底状態に戻る発光過程をいう。この過程は、 Jablonskiダイアグラム(図4)によって説明される。まず、分 子は通常、室温では、電子 ...
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