走査電子顕微鏡

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scanning electron microscope, SEM
電子顕微鏡



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和文文献

  • 反射電子像を用いた鋳鉄鋳造欠陥分析
  • 黒川 豊,枝根 和也,天久 裕樹
  • 鋳造工学 = Journal of Japan Foundry Engineering Society 87(4), 239-247, 2015-04
  • NAID 40020438484
  • 第118回 日本眼科学会総会 特別講演 黄斑と硝子体
  • 岸 章治,板倉 宏高 [研究協力],李 丹傑 [研究協力他]
  • 日本眼科学会雑誌 119(3), 117-144, 2015-03
  • NAID 40020391064
  • 走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発
  • 小川 直樹,溝川 涼,広畑 泰久 [他]
  • 日本大学文理学部自然科学研究所研究紀要 = Proceedings of the Institute of Natural Sciences, Nihon University (50), 275-280, 2015
  • NAID 40020418069

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